実験装置
合成・調製装置
ベルト型高圧力発生装置
ASEA製 1800 tプレスによる加圧とカーボンヒーターへの通電加熱により8 GPa、2000 ºCの条件まで発生可能です。
28 GHzマイクロ波照射装置
富士電波工業㈱製
ジャイロトロンによりマイクロ波を発生させます。2.45 GHzマイクロ波よりも波長が短いため、アプリケーター（照射室）内の電磁界分布を均一にすることができます。
ジャイロトロンによりマイクロ波を発生させます。2.45 GHzマイクロ波よりも波長が短いため、アプリケーター（照射室）内の電磁界分布を均一にすることができます。
2.45 GHz電磁界集中型マイクロ波照射装置
四国計測工業㈱製 マイクロ波焼成炉 SMW-099
アプリケーター内に電磁界強度の高い位置を発生させることができ、試料を効率よく加熱できます。
アプリケーター内に電磁界強度の高い位置を発生させることができ、試料を効率よく加熱できます。
2.45 GHzマイクロ波照射装置 μ-reactor
四国計測工業㈱製μ-reactor
冷却装置を併用することで液体試料に対して、マイクロ波を長時間照射することができます。温度やマイクロ波出力などの制御が可能です。
冷却装置を併用することで液体試料に対して、マイクロ波を長時間照射することができます。温度やマイクロ波出力などの制御が可能です。
2.45 GHzマイクロ波照射装置 μ-reactor EX
四国計測工業㈱製μ-reactor EX
回転アンテナ方式を導入し、加熱ムラを抑制したμ-reactorの発展型です。液体試料だけでなく固体試料へのマイクロ波照射が可能です。
回転アンテナ方式を導入し、加熱ムラを抑制したμ-reactorの発展型です。液体試料だけでなく固体試料へのマイクロ波照射が可能です。
シングルモード型2.45 GHzマイクロ波照射装置
導波管に作り出した定在波によって電磁場の分布を一通りにし、導波管内で電場強度・磁場強度が最大の場所を作り出します。ここに試料を設置することで電場・磁場それぞれの影響が最大となる条件でマイクロ波照射を行うことが可能です。また、分光器を用いた観察やターボ分子ポンプを使用した高真空下でのマイクロ波照射も行っています。
ホモジナイザー型超音波照射装置
BRANSON製 Digital Sonifier S-450D
超音波ホーンを直接液体試料に投入するタイプの照射装置です。超音波をパルスで照射することができます。
超音波ホーンを直接液体試料に投入するタイプの照射装置です。超音波をパルスで照射することができます。
バス型超音波照射装置
本田電子㈱製 ソノリアクターHSR-01
周波数の異なる超音波を発生させることができます。温度や出力などを制御しながらの照射が可能です。
周波数の異なる超音波を発生させることができます。温度や出力などを制御しながらの照射が可能です。
雰囲気置換電気炉
丸祥電器㈱製 高性能小型高温電気炉 SUPER MINI (V) SPM65-17V
雰囲気置換が可能な電気炉です。最高1700 ºCまでの加熱が可能です。
雰囲気置換が可能な電気炉です。最高1700 ºCまでの加熱が可能です。
ガスオーブン
光洋サーモシステム㈱製 小型イナートガスオーブン KLO-30NH
最高温度600 ºCまで加熱可能なガスオーブンです。
最高温度600 ºCまで加熱可能なガスオーブンです。
高温管状炉
オガワ精機㈱ 横型管状炉 OSK 55DB125D （STF16/180）
1500 ºCまで加熱可能な管状炉です。
1500 ºCまで加熱可能な管状炉です。
イメージ炉
㈱モトヤマ製 スーパーイメージ炉 SVF-QP1-4
ハロゲンランプから発生する赤外線を試料部分に集光させることで、高速加熱と急速冷却が行えます。主に、マイクロ波加熱との比較に使用しています。
ハロゲンランプから発生する赤外線を試料部分に集光させることで、高速加熱と急速冷却が行えます。主に、マイクロ波加熱との比較に使用しています。
凍結乾燥機
東京理化機器㈱製 凍結乾燥機 FDU-2100
スラリーなどの粉末を含む液体を凍結させ、溶媒のみを昇華させることで乾燥を行います。粒子の形態を保持したり、凝集を抑制したりすることができます。
スラリーなどの粉末を含む液体を凍結させ、溶媒のみを昇華させることで乾燥を行います。粒子の形態を保持したり、凝集を抑制したりすることができます。
遊星ボールミル
Retsch製 遊星ボールミル PM100
試料の粉砕・混合に使用します。
試料の粉砕・混合に使用します。
自動乳鉢
日陶科学㈱製 自動乳鉢 ALM-200DX
モーターによって乳鉢と乳棒をそれぞれ回転させ、試料の粉砕・混合を行うことができます。
モーターによって乳鉢と乳棒をそれぞれ回転させ、試料の粉砕・混合を行うことができます。
スピンコーター
ミカサ㈱製 スピンコーター 1H-D7
試料の成膜に使用します。
試料の成膜に使用します。
ボール盤
アークラントサカモト㈱製 卓上ボール盤 GTTB-13F
実験器具などの簡単な加工などに使用します。
実験器具などの簡単な加工などに使用します。
旋盤
㈱メカニクス製 小型精密旋盤Shop-Ace USL5.5A-INV
超高圧合成法に必要なガスケットや高圧セルの作製に使用します。
超高圧合成法に必要なガスケットや高圧セルの作製に使用します。
ペレット成型用プレス機
エヌピーエーシステム㈱製 50 kNニュートンプレス NT-50H
ペレットの成型に使用しています。
ペレットの成型に使用しています。
超高圧合成準備用プレス機
理研精機㈱製 ミニプレスセット CDM-20PA
超高圧合成法に使用する高圧セルの作製に使用しています。
超高圧合成法に使用する高圧セルの作製に使用しています。
この他、電気炉や2.45 GHzマイクロ波照射水熱合成装置、ホットプレス、一軸ボールミル、電子天秤、遠心分離器、CIPなどがあります。
測定・評価装置
粉末X線回折装置（XRD）
理学電機㈱製 RINT2200
当研究室で最も使用頻度の高い装置です。合成した試料の相同定などに使用します。
当研究室で最も使用頻度の高い装置です。合成した試料の相同定などに使用します。
磁気天秤
㈱島津製作所製 磁気天秤 MB-11形
磁性体の評価に使用します。30年モノの装置。滝澤教授の思い出の品。
磁性体の評価に使用します。30年モノの装置。滝澤教授の思い出の品。
振動試料型磁力計（VSM）
東栄工業㈱製 振動試料型磁力計 VSM3
磁性体の評価に使用します。
磁性体の評価に使用します。
分光蛍光光度計
日本分光㈱製 分光蛍光光度計 FP-6600
紫外から近赤外領域までの励起・蛍光スペクトルを測定することができます。
紫外から近赤外領域までの励起・蛍光スペクトルを測定することができます。
紫外可視近赤外分光光度計（UV-Vis-NIR）
日本分光㈱製 分光光度計 V-570
紫外から近赤外領域までの吸収・反射スペクトルの測定が可能です。積分球（ISN-470）を取り付け、主に固体試料の測定を行っています。
紫外から近赤外領域までの吸収・反射スペクトルの測定が可能です。積分球（ISN-470）を取り付け、主に固体試料の測定を行っています。
紫外可視分光光度計（UV-Vis）
㈱島津製作所製 紫外可視フォトダイオードアレー分光光度計 MultiSpec-1500
FDA検出器による短時間での測定が可能であり、主に液体試料の吸光度測定に使用しています。また、ATR法による吸光度10,000以上の高濃度試料も測定可能です。
FDA検出器による短時間での測定が可能であり、主に液体試料の吸光度測定に使用しています。また、ATR法による吸光度10,000以上の高濃度試料も測定可能です。
フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
日本分光㈱製 フーリエ変換赤外分光光度計 FT-IR-4700
赤外吸収スペクトルを測定し、分子の官能基などの同定を行います。
赤外吸収スペクトルを測定し、分子の官能基などの同定を行います。
熱重量・示差熱測定装置（TGA-DSC）
TA Instruments Japan Inc.製 熱重量測定装置（SDT） Q600
温度変化に伴う熱分解反応や雰囲気ガスによる質量の増減や反応熱を測定することができます。
温度変化に伴う熱分解反応や雰囲気ガスによる質量の増減や反応熱を測定することができます。
示差走査熱量測定装置（DSC）
TA Instruments Japan Inc.製 示差走査熱量計（DSC） Q2000
温度変化に伴う相転移反応や反応熱を測定することができます。
温度変化に伴う相転移反応や反応熱を測定することができます。
熱機械測定装置（TMA）
TA Instruments Japan Inc.製 熱機械測定装置（TMA） Q400
温度変化に伴う圧縮や膨張などの機械的特性の変化を測定することができます。
温度変化に伴う圧縮や膨張などの機械的特性の変化を測定することができます。
熱量計測定装置（TGA）
TA Instruments Japan Inc.製 熱量計測定装置（TGA） Q2000
温度変化による質量の増減を精密に測定することができます。
温度変化による質量の増減を精密に測定することができます。
デジタルマイクロスコープ
㈱キーエンス製 デジタルマイクロスコープ VHX-900
合成した試料の表面や形状などを簡単に観察できます。
合成した試料の表面や形状などを簡単に観察できます。
動的光散乱測定装置
Malvern Instruments Ltd製 ゼータサイザーナノ ZS
溶液に分散した粒子に関してゼータ電位、粒子径、分子量が測定できる装置です。
溶液に分散した粒子に関してゼータ電位、粒子径、分子量が測定できる装置です。
抵抗率計
㈱三菱化学アナリテック製 低抵抗 抵抗率計 Loresta-GP MCP-T610
試料の抵抗率測定に使用します。また、高抵抗の抵抗率計としてHiresta-UX MCP-HT-800もあります。
試料の抵抗率測定に使用します。また、高抵抗の抵抗率計としてHiresta-UX MCP-HT-800もあります。
強誘電体特性評価システム
㈱東陽テクニカ製 強誘電体評価システム FCE-3
強誘電体の評価に使用します。
強誘電体の評価に使用します。
ホール効果測定装置
BIO-RAD製 ホール効果測定システム HL5500PC
van der Pauw法により500 Kまでの電気伝導度およびホール係数を測ることができます。
van der Pauw法により500 Kまでの電気伝導度およびホール係数を測ることができます。
ビッカース硬度計
㈱ミツトヨ製 マイクロビッカース硬さ試験機 HM-200A
試料のビッカース硬度の測定に使用します。
試料のビッカース硬度の測定に使用します。
表面粗さ測定機
㈱ミツトヨ製 小形表面粗さ測定機 SJ-410
試料の表面の凹凸を測定し、表面粗さを評価します。
試料の表面の凹凸を測定し、表面粗さを評価します。
in situ発光分光システム
分光計器㈱製 ポリクロメータ（マルチチャンネル用分光器） CLP-105UV及び可視カメラ
シングルモード型2.45 GHzマイクロ波照射装置で試料にマイクロ波を照射した際の発光分光をin-situで測定できます。
シングルモード型2.45 GHzマイクロ波照射装置で試料にマイクロ波を照射した際の発光分光をin-situで測定できます。
研磨機
㈱マルトー製 卓上自動研磨機ダイヤラップAce ML-160A
SEM観察用の試料研磨に主に使用しています。
SEM観察用の試料研磨に主に使用しています。
研削機
㈱マルトー製 平面研削機オートロンミニ1型 MG-743
試料の研削加工に使用しています。
試料の研削加工に使用しています。
この他、粘度計があります。